Starkey, D.; Horne, Keith; Fausnaugh, M. M.; Peterson, B. M.; Bentz, M. C.; Kochanek, C. S.; Denney, K. D.; Edelson, R.; Goad, M. R.; De Rosa, G.; Anderson, M. D.; Arévalo, P.; Barth, A. J.; Bazhaw, C.; Borman, G. A.; Boroson, T. A.; Bottorff, M. C.; Brandt, W. N.; Breeveld, A. A.; Cackett, E. M.; Carini, M. T.; Croxall, K. V.; Crenshaw, D. M.; Dalla Bontà, E.; De Lorenzo-Cáceres, A.; Dietrich, M.; Efimova, N. V.; Ely, J.; Evans, P. A.; Filippenko, A. V.; Flatland, K.; Gehrels, N.; Geier, S.; Gelbord, J. M.; Gonzalez, L.; Gorjian, V.; Grier, C. J.; Grupe, D.; Hall, P. B.; Hicks, S.; Horenstein, D.; Hutchison, T.; Im, M.; Jensen, J. J.; Joner, M. D.; Jones, J.; Kaastra, J.; Kaspi, S.; Kelly, B. C.; Kennea, J. A.; Kim, S. C.; Kim, M.; Klimanov, S. A.; Korista, K. T.; Kriss, G. A.; Lee, J. C.; Leonard, D. C.; Lira, P.; MacInnis, F.; Manne-Nicholas, E. R.; Mathur, S.; McHardy, I. M.; Montouri, C.; Musso, R.; Nazarov, S. V.; Norris, R. P.; Nousek, J. A.; Okhmat, D. N.; Pancoast, A.; Parks, J. R.; Pei, L.; Pogge, R. W.; Pott, J.-U.; Rafter, S. E.; Rix, H.-W.; Saylor, D. A.; Schimoia, J. S.; Schnülle, K.; Sergeev, S. G.; Siegel, M. H.; Spencer, M.; Sung, H.-I.; Teems, K. G.; Turner, C. S.; Uttley, P.; Vestergaard, M.; Villforth, C.; Weiss, Y.; Woo, J.-H.; Yan, H.; Young, S.; Zheng, W.; Zu, Y.